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分享納米激光粒度儀的技術優(yōu)勢

 更新時間:2023-04-07  點擊量:873
納米激光粒度儀是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(DynamicLightScattering,DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍0.3nm–10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯(Gaussian)單峰算法和Nicomp多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢。  
技術優(yōu)勢  
1.PMT&APD雙檢測器自由選配;  
2.可搭配不同功率光源;  
3.精度高,接近樣品真實值;  
4.快速檢測,可以追溯歷史數據;  
5.結果數據以多種形式和格式呈現;  
6.符合USP,CP等個多藥典要求;  
7.無需校準;  
8.復合型算法:  
高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換  
9.模塊化設計便于維護和升級;  
可自動稀釋模塊(選配);  
自動進樣系統(tǒng)(選配);  
搭配多角度檢測器(選配);