要檢測多少粒子?
AccuSizer ®系統(tǒng)
AccuSizer® 生成的結(jié)果是粒度分布。分布的屬性受統(tǒng)計規(guī)則的約束。使用粒度分析儀時,一個重要的問題是需要測量多少樣品才能正確定義所得粒度分布。本技術(shù)說明從數(shù)學(xué)和實驗兩個方面解決這個問題。
介紹
如果樣品中的所有顆粒大小完_全相同,則測量一個顆粒并報告結(jié)果。如果樣品的分布很窄,比如說 10 – 25 μm,那么也許只測量少量顆粒就可以定義粒度分布。但是,如果樣品具有廣泛的分布,那么可能需要測量數(shù)千個顆粒以完_全定義實際粒度分布。
我們還需要詢問哪個結(jié)果令人感興趣。如果我們只對中間值感興趣,例如粒子的中位數(shù),那它必須要被測量。就像我們關(guān)注累計粒度分布一樣,例如 D90 或 D95。
與粒度分析的許多其他方面一樣,在開始測量過程之前,最好先定義所需的內(nèi)容以及數(shù)據(jù)的呈現(xiàn)方式。在確定要測量的樣品量(使用計數(shù)技術(shù),如AccuSizer時要分析多少的顆粒數(shù)量)的情況下,需要對分布的寬度有一定的了解,然后才能定義所需的實驗參數(shù),例如要測量/計數(shù)的顆粒數(shù)量或運行實驗的時間。
標(biāo)準(zhǔn)誤差法
讓我們首先考慮要測試多少顆粒子,以便獲得高斯分布平均值。在粒度分析領(lǐng)域使用了幾種不同的粒度平均值,這一事實將在本文檔后面進行討論。具有樣本量的樣本的標(biāo)準(zhǔn)誤差是樣本除以 n 的平方根的標(biāo)準(zhǔn)差,如等式 1 所示。
等式1
SE = 標(biāo)準(zhǔn)誤差
n = 計數(shù)粒子數(shù)
所以
n = s/SE2 等式2
如果樣品的標(biāo)準(zhǔn)偏差為 2,我們可以接受 2% 的標(biāo)準(zhǔn)誤差,那么需要測量的粒子數(shù)為
n = 2/(0.02)2 = 5000
這個要測量的 5000 個粒子的值,可以作為一個比較好的測試初選——但前提是我們只對平均值感興趣。
ISO 13322-1 標(biāo)準(zhǔn)
ISO 13322-1 標(biāo)準(zhǔn)《粒度分析 - 圖像分析方法 – 第 1 部分:靜態(tài)圖像分析方法》中很好地描述了應(yīng)取樣多少顆粒才能獲得滿意結(jié)果的主題.1 ISO 標(biāo)準(zhǔn)中描述的方法基于 Masuda 和 Innoya 發(fā)表的工作.2 下面給出這種方法的簡短摘要。要分析的粒子數(shù) n 由下式給出:
等式3
K = 數(shù)值由置信限、粒子分布和其他參數(shù)數(shù)值確定
等式4
等式5
概率 P 可以與u相關(guān),如下表 1 所示:
概率 | u |
50% |
0.67 |
75% |
1.15 |
80% |
1.28 |
90% |
1.64 |
95% |
1.96 |
97.5% |
2.24 |
99% |
2.58 |
99.5% |
2.81 |
99.8% |
3.09 |
99.9% |
3.29 |
表1.概率百分比與u之間的關(guān)系。
表 2 顯示了使用公式 4 分析所需的顆粒數(shù) n*,允許誤差為 5%,作為樣品幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差 σGSD 的函數(shù)。在這里,概率 P 取為 P = 0.95(表 1 中的 u = 1.96)。
幾何標(biāo)準(zhǔn)差 |
n*(DMM) |
n*(Sauter) |
n*(DMV) |
1.1 |
585 |
389 |
131 |
1.15 |
1460 |
934 |
294 |
1.2 |
2939 |
1808 |
528 |
1.25 |
5223 |
3103 |
843 |
1.3 |
8526 |
4920 |
1274 |
1.35 |
13059 |
7355 |
1750 |
1.4 |
19026 |
10504 |
2363 |
1.45 |
26617 |
14457 |
3096 |
1.5 |
36007 |
19295 |
3956 |
1.55 |
47358 |
25093 |
4952 |
1.6 |
60811 |
31919 |
6092 |
表2.粒子粒子數(shù) n* 作為幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差 σGSD 的函數(shù)。
表 2 中的第一列是樣本分布的寬度,以幾何標(biāo)準(zhǔn)差 σGSD 表示。需要注意的是,表中顯示最大的 σGSD 值1.6 實際上不是很寬,因此許多樣本會超過這個值。因此,對于寬度未知的樣本,應(yīng)參考最后一行。第二列到第四列顯示要分析的粒子數(shù) n*,具體取決于感興趣的平均值。通常使用質(zhì)量中值直徑 (DMM),因此大多數(shù)樣品應(yīng)參考第二列。
因此,一個好的經(jīng)驗法則是,當(dāng)使用 AccuSizer 并轉(zhuǎn)換為體積分布時,最好分析大約 60,000 個顆粒,以獲得高置信度的結(jié)果。
實驗
前面的標(biāo)準(zhǔn)誤差示例和 ISO 13322-1 中采用的方法表明,應(yīng)分析 5,000 到 60,000 個顆粒,以在計算平均值中具有較高的置信水平。進行了一項實驗,將實際測量值與理論極限進行比較。樣品是分散在水中的水合氧化鋁粉末,并使用 AccuSizer SIS系統(tǒng),連接LE400傳感器測量;動態(tài)范圍 0.5 – 400 μm。分析的樣品體積在 0.05 至 2 mL 之間變化,以改變分析的顆粒數(shù)量。表 3 和圖 1 顯示了 D10、D50 和 D90* 與分析顆粒數(shù)的函數(shù)關(guān)系。
#大小 | D10 | D50 | D90 |
442 |
8.5 μm |
13.82 μm |
21.65 μm |
2579 |
8.3 μm |
13.82 μm |
20.99 μm |
5213 |
8.73 μm |
13.82 μm |
21.71 μm |
11364 |
9.47 μm |
15.39 μm |
25.63 μm |
13196 |
10 μm |
16.24 μm |
25.02 μm |
16748 |
17.41 μm |
24.07 μm |
44.11 μm |
37688 |
17.14 μm |
29.42 μm |
50.45 μm |
表3.粒徑與 D10、D50 和 D90的對比。
圖1.粒子數(shù)量與D10、D50和D90。
從圖 1 所示的數(shù)據(jù)中可以觀察到一些結(jié)果和結(jié)論,如下:
• 統(tǒng)計的粒子數(shù)≤11,364 時的結(jié)果似乎是錯誤的,所有值都偏低。
• 至少需要對 16,748 個樣本進行分析,才開始獲得接近準(zhǔn)確的結(jié)果。
• 當(dāng)分析顆粒數(shù)太少時,D90 中的誤差大于 D10 或 D50 中的誤差。
• 在統(tǒng)計至5,213個粒子時,很容易中止這個實驗,并說服自己結(jié)果是準(zhǔn)確的 - 然而事實上是完_全錯誤的。
D90 中的放大誤差值得額外考慮。在許多行業(yè)中,少數(shù)大顆粒導(dǎo)致大問題。在微電子工業(yè)中,CMP研磨液中的一些大顆粒會導(dǎo)致表面缺陷,從而降低產(chǎn)量和利潤。檢測 CMP 研磨液中的大顆粒計數(shù) (LPC) 需要在分布的尾部(D90 右側(cè))進行充分的統(tǒng)計。因此,根據(jù)本文討論的實驗結(jié)果,應(yīng)該分析更多的粒子(比建議的粒子數(shù)更多),以準(zhǔn)確定義分布的尾端粒子情況。
結(jié)論
通過只分析幾個粒子就獲得準(zhǔn)確的粒度分布式非常具有吸引力,但相當(dāng)危險。也許可以只分析幾個粒子,并獲得非常窄的粒徑分布。但對于更廣泛的分布,應(yīng)該分析非常多的顆粒(數(shù)以萬計)來準(zhǔn)確定義真正的粒度分布。當(dāng)分布的 D90 或尾部的顆粒是重點關(guān)注對象時,分析的粒子數(shù)應(yīng)該更高。AccuSizer 仍然是最_好_的分析儀器,可以輕松分析大量顆粒,既能準(zhǔn)確定義分布,又能檢測分布的尾部3。
引用
*90% 的分布低于 D90,50% 低于 D50,10% 低于 D10,見下文