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從篩分法,圖像法,電阻法看激光粒度儀

 更新時(shí)間:2015-07-24  點(diǎn)擊量:2004

     粒度儀的篩分法是一種傳統(tǒng)的粒度測(cè)試方法。它是使顆粒通過不同尺寸的篩孔來測(cè)試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式,可以用單個(gè)篩子來控制單一粒徑顆粒的通過率,也可以用多個(gè)篩子疊加起來同時(shí)測(cè)量多個(gè)粒徑顆粒的通過率,并計(jì)算出百分?jǐn)?shù)。篩分法有手工篩、振動(dòng)篩、負(fù)壓篩、全自動(dòng)篩等多種方式。顆粒能否通過篩子與顆粒的取向和篩分時(shí)間等素因素有關(guān),不同的行業(yè)有各自的篩分方法標(biāo)準(zhǔn)。

  激光粒度儀顯微圖象法包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼像機(jī))、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中,由計(jì)算機(jī)對(duì)這些圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別等處理,計(jì)算出每個(gè)顆粒的投影面積,根據(jù)等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑,再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量,就可以得到粒度分布了。由于這種方法單次所測(cè)到的顆粒個(gè)數(shù)較少,對(duì)同一個(gè)樣品可以通過更換視場的方法進(jìn)行多次測(cè)量來提高測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性。除了進(jìn)行粒度測(cè)試之外,顯微圖象法還常用來觀察和測(cè)試顆粒的形貌。

  激光粒度儀電阻法又叫庫爾特法,是由美國一個(gè)叫庫爾特的人發(fā)明的一種粒度測(cè)試方法。這種方法是根據(jù)顆粒在通過一個(gè)小微孔的瞬間,占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導(dǎo)電液體,使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測(cè)試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過小微孔時(shí),小微孔兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號(hào),通過計(jì)算機(jī)對(duì)這些電阻信號(hào)進(jìn)行處理就可以得到粒度分布。用庫爾特法進(jìn)行粒度測(cè)試所用的介質(zhì)通常是導(dǎo)電性能較好的生理鹽水。